应用场景

目前主流 PON 芯片商：Broadcom、ZTE、海思、MTK、Realtek 等方案的 G/EPON、10/1G-EPON、10/10G-EPON、XG-PON1(10/2.5G-GPON)、XG-PON2(10/10G-GPON) BOB产品均可兼容，

调测范围

  产品配置信息（芯片配置）、厂家及协议信息写入与校验；

  TX 端：发射光功率、消光比、眼图 magin、交叉点、抖动、发射关断功率等参数；

  RX 端：主要针对 APD 部分进行快速电压点设置；接收灵敏度、饱和、接收告警、接收去告警、迟滞等参数；

  自动校准 DDM 监控量(包括模块温度，供电电压，Bias 电流，发射光功率，接收光功率)；

功能特点

测试系统主要设备包含：眼图仪（常用安捷伦 86100 系列）一台，兆捷 BOB 综合测试仪主机一台，兆捷综合测试仪辅机四台，辅机控制终端 4 台+显示器 4 台，PC 机一台。通过光纤、以太网、串口、GPIB 等方式互联，为客户提供 4 工位 16 通道测试端口。

兆捷测试系统的优势（效率与成本）：

  测试仪表利用率高，省去大笔国外设备购买费用（安捷伦 86100 系列眼图仪）。

  传统单机测试方式眼图仪利用率为 400-600/8 小时，兆捷系统眼图仪极限产能 3-4K/8 小时；

  整合周边设备资源实现集成化硬件设计，并加载自研软件控制。

  简化系统搭建和维护难度，同时提升单体测试效率。

  传统测试大多采用 3 站式分离设备搭建，工序繁多单体设备众多，累计测试用时为兆捷方案的 2-5 倍。

  优化 BOB 工艺路线，实现一站式测试，同时省去扫条码等人为参与过程实现 4 工位并行无缝测试，极大提升人员产出效率。减少工位设置降低企业用工人数。

  传统切换：传统测试采用多台预上电测试，切换时：拔网线-拔光纤-插入下一测试产品-扫条码，员工熟练度制约设备利用率同时设备测试时员工又“无事可干”；

  无缝测试：设备自动识别产品状态，物理切换动作由员工预先完成每工位提供 4 个待测端口，员工有 3 个产品的切换“缓冲”时间，实现设备不停员工不闲；